D&S AE1/RD1發(fā)射率測量儀 vs.傅里葉光譜儀 (FTIR)區(qū)別、優(yōu)勢及應(yīng)用

便攜式發(fā)射率計(jì) vs. 傅里葉變換紅外光譜儀 (FTIR)

在發(fā)射率測量領(lǐng)域，D&S AE1/RD1發(fā)射率測量儀和實(shí)驗(yàn)室 FTIR 光譜儀是兩種主流工具，但它們的定位和用途截然不同，是互補(bǔ)而非競爭關(guān)系。

• 便攜式發(fā)射率測量儀 （D&S AE1/RD1)

• 定位: 現(xiàn)場質(zhì)量控制、合規(guī)性驗(yàn)證和快速研發(fā)篩選的優(yōu)秀工具。

• 優(yōu)勢: 速度快、便攜、操作簡單、成本相對較低。關(guān)鍵的是，它直接測量的是眾多法規(guī)和工程計(jì)算所需的總半球發(fā)射率積分值。它為工業(yè)應(yīng)用提供了一個(gè)明確的、可直接使用的“答案"。

• 傅里葉變換紅外光譜儀 (FTIR)?

• 定位: 實(shí)驗(yàn)室級的材料基礎(chǔ)研究和光譜選擇性設(shè)計(jì)工具。

• 優(yōu)勢: 提供高分辨率的光譜反射率或透射率數(shù)據(jù)，能揭示材料在不同波長的光學(xué)特性，對于理解材料的物理機(jī)理或設(shè)計(jì)具有特定光譜響應(yīng)的涂層（如 Low-E 涂層、太陽能選擇性吸收涂層）至關(guān)重要。

• 局限性 (對于現(xiàn)場應(yīng)用): 設(shè)備昂貴、體積大、操作復(fù)雜、對環(huán)境要求高。其測量的通常是光譜反射率，總半球發(fā)射率需要通過積分和復(fù)雜的模型進(jìn)行間接計(jì)算，這個(gè)過程本身也會引入新的不確定性。

選擇何種儀器，本質(zhì)上是在測量的深度與應(yīng)用的便捷性之間做出權(quán)衡。對于需要理解材料“為什么"具有某種輻射特性的基礎(chǔ)研究，F(xiàn)TIR 是不可替代的發(fā)現(xiàn)工具。而對于需要回答“這個(gè)材料的綜合輻射性能是否達(dá)標(biāo)"的工業(yè)和工程問題，AE1/RD1 則是一個(gè)高效、可靠的測量設(shè)備。它將復(fù)雜的光譜積分過程固化在儀器設(shè)計(jì)之中，為用戶提供了直接、相關(guān)的測量結(jié)果。